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常規(guī)測試
TOF-SIMS測試流程

TOF-SIMS測試流程

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靜態(tài)二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）主要用于樣品成像、成分定性鑒定; 三維成像、二維成像、質(zhì)譜。對材料表面、界面的元素、分子結(jié)構(gòu)進行分析，分析深度:表面1-3nm，檢出限：ppm級別。

制樣要求：

1、樣品要求無磁性，粉末樣品至少10mg；

2、塊體樣品尺寸小于1cmx1cmX8mm，最小幾毫米大??；

3、需要3D圖請選擇，默認沒有;

4、深度分析具體測試費用與深度、離子有關(guān);

5、如果測試需要和之前的同條件，送樣務必提供之前測試條件；

6、正負離子分開測試，測試時間不疊加。



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